NI&永诚科技测试测量技术研讨会圆满成功！

         2025年5月27日，由NI和永诚科技联合主办的测试测量技术研讨会哈尔滨站圆满落幕。作为本年度测试测量领域最受关注的研讨会之一，会议吸引了众多高校、研究所等测试领域的技术决策者与工程师参与。

        这场盛会不仅有NI的工程师介绍了NI新产品及LabVIEW新特性，永诚科技的工程师还带领与会者进行了从测试测量解决方案到设备展示的全流程体验，助力科研探索与工程实践迈向新高度。现场更有技术专家亲授使用技巧，分享实战案例。

       本次研讨会共有四位NI和永诚科技资深专家进行现场演讲，议题包括《LabVIEW 新特性汇总》，《NI mioDAQ介绍》，《从0到1做半实物仿真-从典型配置到系统实现》，《测试测量解决方案及案例介绍》。在场工程师纷纷反馈收获颇丰。